Mỹ thử nghiệm máy quét 3D phát hiện bom giả pin laptop | Báo Giao thông
Trang chủ Thế giới Thế giới giao thông Mỹ thử nghiệm máy quét 3D phát hiện bom giả pin laptop

Mỹ thử nghiệm máy quét 3D phát hiện bom giả pin laptop

19/06/2017 - 11:01 (GMT+7)

Cơ quan An ninh Giao thông Mỹ (TSA) đang thử nghiệm máy quét 3D sử dụng công nghệ chụp cắt lớp vi tính có thể phát hiện thiết bị bom trá hình trong hành lý xách tay, theo Fox News.

25

Hệ thống máy quét 3D được thử nghiệm để kiểm tra hành lý xách tay

TSA đang thử nghiệm máy quét này tại một điểm kiểm tra an ninh ở sân bay quốc tế Phoenix Sky Harbor. Cuộc thử nghiệm có sự phối hợp của hãng hàng không American Airlines.

Công nghệ chụp cắt lớp vi tính (CT) vốn được sử dụng để soi hành lý ký gửi nhưng vì chi phí cao và kích thước máy lớn nên không được sử dụng để soi các hành lý xách tay. Nay, với thiết kế máy soi mới sử dụng công nghệ CT dành cho hành lý xách tay, giới chức an ninh hàng không Mỹ mong muốn đón đầu những mối hiểm họa mới từ âm mưu chế bom giả như pin điện thoại của khủng bố.

Đồng thời, Hãng hàng không American Airlines cho biết, công nghệ mới cho phép hành khách để những đồ vật đang bị cấm mang lên các chuyến bay tới Mỹ như: Laptop, các lọ dung dịch… trong hành lý xách tay, đẩy nhanh thời gian làm thủ tục tại sân bay.

TSA chưa cung cấp chi phí dự kiến để chuyển đổi các máy quét an ninh sang công nghệ CT. Một đại diện TSA cho biết, cơ quan này sẽ đánh giá thông tin sau chương trình thử nghiệm, từ đó ước tính chi phí chuyển đổi. 

Vân Trang

Bấm LIKE để theo dõi thông tin chính thống,
tin cậy từ Báo Giao Thông
Ý KIẾN BẠN ĐỌC